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多功能X熒光光譜儀

價格
電議

型號
EDX3600K

品牌
天瑞儀器

所在地
蘇州市

更新時間
2021-12-01 15:59:38

瀏覽次數(shù)

    X熒光光譜儀屬于的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展,傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學精密機械電子學結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式,轉(zhuǎn)化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結(jié)構(gòu),并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ),結(jié)合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果,研制出具有知識產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型X熒光光譜儀。

    EDX 3600K X熒光光譜儀大的亮點在于它大鈹窗薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過了江蘇省計量科學研究的檢測,并通過儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術(shù)達到國際水平。

    應(yīng)用領(lǐng)域:

    專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款高端設(shè)備,主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
    同時在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研所、大專校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。

    性能優(yōu)勢:

    1.低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳
    使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率低達到139eV,各項指標優(yōu)于標準。SDD探測器具有良好的能量線
    性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

    2. 測試精度更高,檢出限更低
    ①化的樣品腔設(shè)計,帶可調(diào)速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
    ②采用小真空的樣品腔設(shè)計,保證測試時達到10Pa以下,使設(shè)備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

    3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結(jié)果
    采用研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù),其大線性計數(shù)率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結(jié)果,
    設(shè)計成高計數(shù)率,大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。

    4. 一鍵式智能化操作
    軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。

    5. 強大的自動化功能
    ①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
    ②采用自動穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的一致性:利用解譜技術(shù)使譜峰分解,采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

    6. 強度校正法
    具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加,內(nèi)置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

    7. 完善的光路系統(tǒng)
    研發(fā)的光路系統(tǒng),光程更短,光路損失更少,激發(fā)效果更佳。

    8. 三重安全防護功能
    三重安全防護功能,自動感應(yīng),沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。

    9. 安全警示系統(tǒng)
    警告指示系統(tǒng),通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。

    儀器配置:

    鈹窗電制冷SDD探測器
    自旋式樣品腔
    高效薄窗X光管
    近光路增強系統(tǒng)
    可自動開啟的測試蓋
    自動切換型準直器和濾光片
    真空腔體
    自動穩(wěn)譜裝置
    90mm×70mm的液晶屏
    的數(shù)字多道技術(shù)
    多變量非線性回歸程序
    相互獨立的基體效應(yīng)校正模型

    技術(shù)參數(shù):

    型號:EDX3600K
    X射線源:50KV、1mA
    樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
    分析方法:能量色散X熒光分析方法
    測量元素范圍:原子序數(shù)為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
    檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據(jù)客戶需要增加元素
    含量范圍:ppm~99.99%
    檢測時間:10秒以上
    檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
    探測器及分辨率:大薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器低至125eV
    激發(fā)源:銠靶或鎢靶光管根據(jù)客戶需求可供選擇
    測井環(huán)境:真空系統(tǒng),10秒可抽到10Pa以下
    濾光片:6種濾光片組合自動切換
    自旋裝置:可調(diào)速的自旋裝置
    檢出限:對樣品中的大多數(shù)元素來說,低檢出限達5~500ppm
    真空系統(tǒng):真空系統(tǒng),10秒可到10Pa
    數(shù)據(jù)傳輸:數(shù)字多道技術(shù),快速分析,高計數(shù)率
    測試臺:360°電動旋轉(zhuǎn)式
    保護系統(tǒng):樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成
    樣品放置:的樣品杯設(shè)計,自帶壓環(huán),可防止樣品晃動
    數(shù)字多道技術(shù):計數(shù)率>50kcps,有效計數(shù)率高至500kcps
    外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
    操作環(huán)境濕度:≤90%
    操作環(huán)境溫度:15℃~30℃

    軟件優(yōu)勢:

    采用公司新的能譜EDXRF軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。
    具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
    全新的軟件界面和內(nèi)核,采用FP和EC軟件組合的方法,應(yīng)用面更加廣泛。


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