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ETS406D靜電衰減測試儀
價格
電議
型號
F17
品牌
所在地
上海市 閔行區(qū)
更新時間
2024-03-30 18:19:01
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產(chǎn)品描述
主要用途:
ETS406D靜電衰減測試儀采用直流充電法測試材料的靜電衰減特征,以評估其防靜電特性。
應用范圍:
1.用于實驗室分析材料自身的靜電特性、評估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展靜電防護材料;
2.用于在生產(chǎn)制造領域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設備,依據(jù)各種標準規(guī)范來進行靜電特性檢測和監(jiān)測。
適用標準:
美國無紡布靜電衰減測試標準IST40.2(01),美國聯(lián)邦標準FED-STD-101C(Method4046),MIL-B-81705C,MIL-PRF-81705D,GB19082,GJB2625
技術參數(shù):
1.充電電壓:0~5.5kV;
2.誤差期設置:50%、10%、1%(0);
3.電壓表量程:0-5kV;
4.計時器量程:1-99.99s;
5.計時分辨率:0.01s;
6.測試模式:手動、自動(只能測試從5kV開始的衰減);
7.自動測試次數(shù):1-9次;
8.測試時間間隔:1-25秒;
9.輸入電源:86-264VAC,50/60Hz。
技術特點:
1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試,金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料;
2.選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管;
3.選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上,還可以測試粉體和液體靜電衰減時間;
4.配套法拉第測試籠提供一個屏蔽空間,試樣放置在法拉第籠內(nèi)進行測試,法拉第籠通過配套連接線連接406D主機;
5.法拉第籠具有互鎖裝置,打開法拉第籠時,高壓電源輸出被切斷;
6.STM-2驗證模塊提供一個標準的電阻,電容直接采取系統(tǒng)電容,通過測試STM-2標準模塊可以驗證是否正常;
7.位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下,放置在806B無損電極上后,可以直接測試粉體、液體和固體試樣;
8.顯示:指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計時器(中),彩色LED燈指示各個操作進程。
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ETS406D靜電衰減測試儀采用直流充電法測試材料的靜電衰減特征,以評估其防靜電特性。
應用范圍:
1.用于實驗室分析材料自身的靜電特性、評估抗靜電添加劑的功效、發(fā)展靜電防護材料;
2.用于在生產(chǎn)制造領域作為產(chǎn)品質(zhì)量控制設備,依據(jù)各種標準規(guī)范來進行靜電特性檢測和監(jiān)測。
適用標準:
美國無紡布靜電衰減測試標準IST40.2(01),美國聯(lián)邦標準FED-STD-101C(Method4046),MIL-B-81705C,MIL-PRF-81705D,GB19082,GJB2625
技術參數(shù):
1.充電電壓:0~5.5kV;
2.誤差期設置:50%、10%、1%(0);
3.電壓表量程:0-5kV;
4.計時器量程:1-99.99s;
5.計時分辨率:0.01s;
6.測試模式:手動、自動(只能測試從5kV開始的衰減);
7.自動測試次數(shù):1-9次;
8.測試時間間隔:1-25秒;
9.輸入電源:86-264VAC,50/60Hz。
技術特點:
1.406D配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試,金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料;
2.選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管;
3.選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上,還可以測試粉體和液體靜電衰減時間;
4.配套法拉第測試籠提供一個屏蔽空間,試樣放置在法拉第籠內(nèi)進行測試,法拉第籠通過配套連接線連接406D主機;
5.法拉第籠具有互鎖裝置,打開法拉第籠時,高壓電源輸出被切斷;
6.STM-2驗證模塊提供一個標準的電阻,電容直接采取系統(tǒng)電容,通過測試STM-2標準模塊可以驗證是否正常;
7.位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下,放置在806B無損電極上后,可以直接測試粉體、液體和固體試樣;
8.顯示:指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計時器(中),彩色LED燈指示各個操作進程。