FT-340電線電纜電阻率檢測儀
一、本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
二、廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
三、硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等
四、
規(guī)格型號 |
FT-341 |
FT-342 |
FT-343 |
FT-345 |
FT-346 |
FT-347 |
1.方塊電阻范圍 |
10-5~2×105Ω/□ |
10-4~2×103Ω/□ |
10-3~2×105Ω/□ |
10-3~2×103Ω/□ |
10-2~2×105Ω/□ |
10-2~2×103Ω/□ |
2.電阻率范圍 |
10-6~2×106Ω-cm |
10-5~2×104-cm |
10-4~2×106Ω-cm |
10-4~2×104-cm |
10-3~2×106Ω-cm |
10-3~2×106Ω-cm |
3.測試電流范圍 |
0.1μA,μA,0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
0.1μA,μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
4.電流精度 |
±0.1%讀數(shù) |
±0.2%讀數(shù) |
±0.2%讀數(shù) |
±0.3%讀數(shù) |
±0.3%讀數(shù) |
±0.3%讀數(shù) |
5.電阻精度 |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.5% |
≤0.5% |
≤0.5% |
6.顯示讀數(shù) |
大屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 |
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7.測試方式 |
雙電測量 |
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8.工作電源 |
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W |
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9.整機不確定性誤差 |
≤3%(標準樣片結果) |
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10.選購功能 |
選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺 |
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11.測試探頭 |
探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針 |
其他推薦產(chǎn)品
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