日本NF LCR測(cè)試儀ZM系列概述
測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域 實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量,可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途
日本NF LCR測(cè)試儀ZM系列偏差小的高再現(xiàn)性 測(cè)量示例
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376,對(duì)1nF的電容反復(fù)測(cè)量200次后得到的結(jié)果。 使用ZM2376,測(cè)量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高。
技術(shù)參數(shù)
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日本NF LCR測(cè)試儀ZM系列概述
測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域
實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量,可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途
日本NF LCR測(cè)試儀ZM系列偏差小的高再現(xiàn)性 測(cè)量示例
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376,對(duì)1nF的電容反復(fù)測(cè)量200次后得到的結(jié)果。
使用ZM2376,測(cè)量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高。
測(cè)量頻率:100kHz
測(cè)量信號(hào)電平:1V
技術(shù)參數(shù)