一、ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達(dá)到160MHz，可選配自動(dòng)測試軟件模塊，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)介電常數(shù)測量。    

ZJD-C測試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù)：

• 雙掃描技術(shù)——測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
• 雙測試要素輸入——測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
• 雙數(shù)碼化調(diào)諧——數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
• 自動(dòng)化測量技術(shù)——對(duì)測試件實(shí)施Q值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。
• 全參數(shù)液晶顯示——數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
• DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源——確保信源的高保真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。
• 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化使測試回路殘余電感減至低，根除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

二、適用標(biāo)準(zhǔn)

• ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀適用于固體和液體絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)的測試，測試能力符合以下標(biāo)準(zhǔn)（樣品尺寸應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求制作）：
• GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法》（等效IEC 60250：1969）
• GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》
• ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》

三、主要參數(shù)

 

*1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 100kHz-160MHz

*2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)

3．Q值測量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

*5．電感測量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動(dòng)扣除功能

*6．電容直接測量范圍：1pF～25nF                                      

7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF                                        

8．準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

10．合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13.（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： Φ50mm/Φ38mm可選

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ50mm/Φ38mm可選  厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、15μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。